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　　无线电综合测试仪 WAVETEK 4032 STABILOCK通用模拟/数字通信测试仪 4032 STABILOCK是快速、简易地测试不同型号的移动电话的通信测试仪。按一下按钮即可测试模拟和数字移动电话而不需要重新配置硬件。性能指标pdf模拟和数字移动电话的通用测试平台。 全球TETRA 及TETRAPOL的测试仪解决方案。 快速、高效的频谱仪分析选件。 模拟和数字无线中继线测试功能。 对基站的全面测试。 适用于数字系统 ＊GSM/PCN/PCS ＊CDMA/IS-95 ＊DECT ＊AMPS/IS-136 ＊TETRA ＊PDC高速度完成GSM手机测试仅需60秒种。在大多数系统 （例如 GSM，PCN／PCS）之间 可实现方便的切换。高精度的测量确保了具有复验性的、准确性的测试结果。 射频蜂窝功率测试精度典型值可达5%。扩展性能新系统不仅可实施对 DECT 制固定台、移动台的测量，也可对TETRA制及其它无线集群系统进行测量。快速频谱分析仪功能强大前频谱分析仪， 测量范围从 O.4MHZ到 2.3GHZ。其功能包括自动调谐，缩放和GSM触发模式。简单的自动化过程利用PC机编辑软件包来生成 IEEE-488或AUTORUN程序非常方便，这些软件包包括语法检测、库函数、存贮和程序管理程序。 灵活方便的无线综合测试仪STABILOCK 4O32系列产品满足了世界范围内移动无线电通信制造商和维修机构的需求。可针对目前6种主要数字制式和30多种模拟制式无线电通信系统进行测量。灵活的模块化结构 4032系列采用内置模块和存贮卡，使升级变得易如反掌。 模块化设计不仅保护了投资，还允许用户随着无线电技术的成熟或需求的变化测试新系统。借助4032一贯的屏幕布局，GPIB命令以及简单的存贮卡软件安装，技术人员只需简单的培训就能使用新的模块及功能。 适用于维修中心的测试仪该产品简捷的设计大大提高了生产率，与同类解决方案相比，节省了空间，降低了重量。超大易读屏幕对于人工操作来讲意义重大，屏幕上的指针式显示能够为远距离设备调整提供清晰的指示。清晰的布局，软功能键和光标控制键提供了直观的用户界面。适用于生产线的测试仪快速、准确的测试为数字无线电通信终端制造商提供了理想的解决方案。GPIB编程或与局域网服务器的连接灵活地实现了自动测试。AUTORUN自动执行程序，大大方便了测试工作。利用ARE编辑软件包在PC机上进行编辑可以从广泛的ACTERNA库中快速地创建或修改自动执行程序。方便、全面的基站测试4O32系列提供AMPS，NAMPS，D-AMPS，IS-136，CDMA或 ETA CS基站测试。在许多情况下可以利用用户自编的 AUTORUN程序来实现基站测试的自动化。 简洁、轻巧的设计大大方便了基站安装及维护人员。网络维护网络或信道出现故障时，客户会因经济上的损失而一筹莫展，因此维护时需分秒必争。4032系列的高速测量功能实现了故障的迅速排除，因而使客户损失大大减少。而清晰的显示可以提供快速准确的结果。利用星图显示可以简化I和Q的校准工作。小/大/平均值统计可以使优化更方便。快速频谱分析仪（高达 2.3GHz）提供带内和带外检测， 用来识别在天线或耦合器处生成的干扰信号或内部调制。CDMA测试CDMA基站测试软件可以用在8OOMHZ或1900MHZ频段。星图式显示可看出调制信号的对称性，信道功率显示可显示引导码信道及话音信道功率。此外，许多检测过程只需输入射频，而无需额外同步时钟。 检测内容包括信道功率，频率容限，波形质量（rho），向量大小以及引导码信道时间偏移，可以测量每一码信道的时间、功率、相位。快速的星图查看相位误差，幅值，RMS向量 误差，功率和ΔP/信号有助于检查NADC/IS—54/IS—136基站故障。清晰的显示数字测试可采用模拟表头。图形化和数字测量结果便于快速分析。邻近信道功率数字显示，简化了信道、邻近信道以及次邻信道功率的分析。综合性能来自于硬件、软件的配置GSM测试（手机）1.发射功率2.相位和频率误差3.时间功率样板及脉冲宽度4.调制频谱5.手机处于测试模式下的发射测量6.误码率（BER）7.帧删除率（ER）8.寻呼灵敏度9.手机测试报告10.小/大，平均值统计11.音频RMSCDMA测试（基站）1.信道功率2.码域功率3.码域时间4.码域相位5.加性高斯白噪声 （AWGN）源6.波形质量（rho）7.矢量误差图（星图显示）8.相让误差9.引导时间偏移IS－136测试（手机）1.星图显示（图形／数字2.调制频谱3.时间功率脉冲4.ACPM邻信道功率5.误码率仅(BER）80O和1900MHZ系统6.模拟／数字控制信道到模拟/数字TCH7.站信道切换8.MAHO功能9.ACELP或VSELP10.话音环路D－AMPS/NAMPS（基站）1.功率测量2.数字和模拟操作3.频谱分析仪4.星图显示5.邻近和次邻信道功率DECT测试（FP，PP）1.射频的准确性和稳定性2.载波：标称TX功率3.频率误差4.调制5.频偏6.飘移7.不期望的射频调制及干扰8.抖动9.上升链路时间10.参考时钟11.音频测量